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【2h】

NBTI Induced Performance Degradation in Logic and Memory Circuits: How Effectively Can We Approach a Reliability Solution?

机译：NBTI引起逻辑和存储器电路的性能下降：我们如何有效地实现可靠性解决方案？

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机译：NBTI / PBTI对纳米CMOS中具有高k金属栅极器件的多米诺逻辑电路性能的影响
2. Impact of NBTI on performance of domino logic circuits in nano-scale CMOS [J] . M. Houshmand Kaffashian, R. Lotfi, K. Mafinezhad, Microelectronics journal . 2011,第12期

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